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半值层测试专用组合铝片(115A)
产品概述:
115K半值层测试专用组合铝片由9块不同厚度,纯度为99.9%的铝片组成,主要用于X射线类机器HVL测试。
技术参数
1.纯度99.9%;
2.数量:9块;
3.铝片长宽:10*10cm;
4.厚度:0.1mm(3块)、0.2mm(1块)、0.5mm(2块)、1.0mm(2块)、2.0mm(1块)。